靜電ESD抗干擾測(cè)試

　　1、測(cè)試機(jī)圖片


　　2、設(shè)備參數(shù)
　　放電方式：氣隙/接觸
　　輸出電壓：1~30KV
　　輸出極性：正、負(fù)
　　輸出對(duì)地電阻：200k

　　3、標(biāo)準(zhǔn)
　　IEC610000-4-2：2004 / GB/T 2147.2-2008

　　4、測(cè)試描述
　　該系統(tǒng)可以完成，EMC中EMS/ESD測(cè)試項(xiàng)，針對(duì)操作者（Human-Body Model，HBM）和鄰近物體（Machine Moidel，MM）靜電放電時(shí)抗干擾試驗(yàn)。以評(píng)估電氣及電子設(shè)備遭受靜電放電時(shí)的抗干擾性能。隨著半導(dǎo)體IC 集成度越來(lái)越高，柵極氧化層越來(lái)越薄，ESD放電現(xiàn)象，對(duì)電子產(chǎn)品而言是致命的，它可能導(dǎo)致元器件內(nèi)部電子線路受損，影響電子產(chǎn)品的使用壽命。